  |
  |
您现在的位置：首页 > SN74BCT8373ADWR
声明：图片仅供参考，请以实物为准！
制造商型号： SN74BCT8373ADWR
制造商： Texas Instruments
描述： IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
订购热线：400-900-3095, QQ:800152669, Email:sales@szcwdz.com
制造商： Texas Instruments
描述： IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
订购热线：400-900-3095, QQ:800152669, Email:sales@szcwdz.com
产品信息
| 数据列表 | SN54/74BCT8373A |
|---|---|
| 产品相片 | 24-SOIC |
| 标准包装 | 2,000 |
| 类别 | 集成电路 (IC) |
| 家庭 | 逻辑 - 专用逻辑 |
| 系列 | 74BCT |
| 包装 | 带卷 (TR) |
| 逻辑类型 | 扫描测试设备，带 D 型锁存器 |
| 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 位数 | 8 |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商器件封装 | 24-SOIC |
询价