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SN74ABT18640DLR Texas Instruments
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![]() | Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP 详细描述:Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-SSOP 型号:SN74ABT18640DLR 仓库库存编号:SN74ABT18640DLR-ND | 无铅 |
![]() | Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP 详细描述:Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-SSOP 型号:SN74ABT18640DLRG4 仓库库存编号:SN74ABT18640DLRG4-ND | 无铅 |
数据列表 | SN54ABT18640, SN74ABT18640 |
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产品相片 | 56-SSOP Pkg |
标准包装 | 1,000 |
类别 | 集成电路 (IC) |
家庭 | 逻辑 - 专用逻辑 |
系列 | 74ABT |
包装 | 带卷 (TR) |
逻辑类型 | 扫描测试设备,带反相总线收发器 |
电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
位数 | 18 |
工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 |
封装/外壳 | 56-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) |
供应商器件封装 | 56-SSOP |